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HAST半導體高加速應力測試箱BHAST實驗箱

評估系統,絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗，可進行BHAST試驗。

HAST半導體高加速應力測試箱BHAST實驗箱

特點

·高機能：采用驅動計測， 測試時焊接工序大幅減少

·軟件設計簡單明了，直觀易操作

·遠程監控功能，可監控試驗過程。

·便利性高：構造裝著脫落式、 易進行保養交換。可同時試驗停 止等聯動裝置功能，系統構成靈活。

·測試自檢功能：點檢、校正方便。

·設計精巧，不受場所限制，易移動。

·可靠性高：配有CF卡，以防設備故障數據丟失。以UPS作為系統的支撐，確保試驗的安全繼續進行。

HAST半導體高加速應力測試箱BHAST實驗箱

用于評估非氣密性封裝IC器件（固態設備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度（偏壓）高加速應力壽命老化試驗。

應用領域： PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規級芯片

HAST半導體高加速應力測試箱BHAST實驗箱

技術規格

類型 500V *1 1000V

通道數 32通道/64通（可選）

工作時間 1~9999小時

偏置電壓 -100~+500VDC -100~+1000VDC

記性反轉 具備

共負極測試（可選） 具備

CAF測試（可選） 具備

測試電壓 1.0-99.9VDC (0.01V 步進) 100-500VDC (0.1V 步進) 1.0-99.9VDC (0.01V 步進) 100-1000VDC (0.1V 步進)